支持IDE环境
TKStudio,致远公司,中/英文界面,多内核编译/调试环境,强大内置编辑器。
ZlgLogic,致远公司,中/英文界面,逻辑分析仪测试环境,强大内置测试功能。
CCS,TI公司,英文界面,DSP编译调试环境。
Keil,Keil公司,英文界面,8051/251/C166/ARM编译/调试环境。
ADS,ARM公司,英文界面,全ARM内核编译/调试环境。
RealView,ARM公司,英文界面,全ARM内核编译/调试/环境。
IAR,IAR公司,英文界面,多内核编译/调试环境。
AVRStudio,ATMEL公司,英文界面,AVR编译/调试环境。
独创的新概念仿真框架
全面的专业优化设计, 与经典设计相比性能优异,能在应用中达到叹为观止的性能。
采用全新概念的柔性仿真框架, 从容应对当今和未来的MCU仿真测试。
与主流芯片厂商合作,保证使用Z佳的仿真技术, 以达到Z佳的仿真性能。
经过优化的USB通讯接口, 保证Z大2500KB/S的代码下载速度。
内部Z大6x512KB(可扩至6x1MB)仿真SRAM空间, 保证几乎全部MCU仿真需求。
内部采用大容量可配置的FPGA技术, 保证无硬件升级的忧虑。
采用AutoVolt技术, 程控步进仿真电压(1.8V-5.5V), 满足全电压范围的芯片仿真。
采用QuickBUS高速总线技术, 可稳定仿真超过80MHz的处理器。
长达600小时运行计数器,并支持时间标签(10ns分辨率)。
内置PLL频率发生器,可以自动产生用户设置的20K-100MHz运行时钟,时间精度为0.001%。
支持用户目标板的时钟输入和仿真头上的外部振荡晶体,并进行时钟有效性检查。
采用高速信号跟踪技术,真正支持ALE静态关闭或动态关闭,不限制对ALE信号的非常规切换。
自动感知6/12Clock时钟,并支持动态切换和静态切换,不限制用户对时钟信号的非常规切换。
所有仿真器入出口线100%保护,避免使用中误操作引起仿真器的损坏,保护用户投资。
带有硬件自检功能,方便用户判断仿真器工作异常的原因。
代码/数据空间支持1Byte精度的ReMap功能,支持冯诺曼Von Neumann结构。
支持运行全地址范围的仿真器外部代码仿真。
全资源On the fly操作, 全球首例Z新专L技术
内部全部寄存器运行中可见。
内部数据区域运行中可见。
外部数据区域运行中可见。
5x512K断点运行中任意设置和取消。
数据性能分析运行中结果可见。
代码覆盖和数据覆盖运行中结果可见。
程序运行加彩轨迹运行中可见。
程序指针与源代码行运行中紧密关联。
SuperTrace超级跟踪, 全球首例Z新专L技术
全球首个8051全范围SFR跟踪记录,更好的协助用户分析程序运行轨迹。
Z大512KB超大容量实时Super Trace超级跟踪功能。
跟踪记录ACC / B / DPTR / SP等全部SFR。
跟踪记录内部4组R0-R8寄存器。
同时记录48-bit同步时间记录标签(Time Stamp),10ns精度。
同时记录程序地址指针PC。
8051代码/数据分组调试仿真支持
突破8051的64K代码数据限制,可仿真Z大8分组64KB空间。
支持代码分组(Bank)调试, Z大8x64K。
支持数据分组(Bank)调试, Z大8x64K。
支持4路仿真器外部Bank控制信号输入。
支持无限制数量MCU内部Bank控制信号。
真正的IAP/ISP功能仿真支持
突破传统仿真技术缺陷, 真正实现内部Flash的IAP / ISP的仿真。
用户程序代码可自动/快速下载到MCU内部/外部Flash中, 并支持用户自定义Flash编程算法。
支持Flash代码用途的仿真, 包括代码运行和代码读取。
支持Flash数据用途的仿真, 包括读取和写入操作。
支持Flash本身操作的仿真, 包括扇区擦除, 全片擦除, 字节写等Flash操作。
ARM内核中无限制个数的Flash断点。
同步信号的输入/输出
1x路仿真监控信号输出, 可同步触发外部测试仪器, 如示波器和逻辑分析仪等。
1x路逻辑分析仪触发信号输出, 可同步触发外部测试仪器, 如示波器和逻辑分析仪等。
2x路外部同步信号输入, 可进行逻辑编程, 触发内部逻辑分析仪和停止仿真器模块运行。
内嵌多种专业分析工具, 协组改善程序结构, 优化代码性能
代码覆盖分析, Z大512KB容量, 运行中结果可见。
轨迹加彩显示, Z大512KB容量, 运行中结果可见。
数据覆盖分析, Z大512KB容量, 运行中结果可见。
代码性能分析, Z大512KB容量, 运行中结果可见。
数据性能分析, Z大512KB容量, 运行中结果可见。
代码运行跟踪, Z大512KB容量, 48-bit位同步时间记录和PC记录。
超级代码跟踪, Z大512KB容量, 48-bit位同步时间记录和PC记录, SFR和R0-R7记录。
复杂断点设计, 包括数据读写操作断点,地址范围判断断点,堆栈溢出断点等。
时间断点功能,Z大600小时/10ns精度,方便用户特殊仿真要求。
真正专业的内嵌逻辑分析仪, zlgLogic全面支持
Z大64路输入信号,200M采样速度,1MB存储深度。
创新的触发测量方式和和崭新的分析测量手段,令测量更加简单快捷。
可设置边缘/电平/总线等基本触发方式和高级复杂触发方式,方便易用。
人性化软件轻松完成信号测量、触发设置、动态帮助、软件升级等功能。
内部32路缺省仿真MCU信号, 参与显示和触发。
仿真模块和逻辑分析仪模块紧密关联, 可同时独立运行或停止。
多文档结构可让您在测量的同时观察和比较其他数据。
强大的数据导出功能支持对测量信号进行二次分析成为可能。
柔性频率设置突破传统的1、2、5进制,使得测量更加精确。
动态升级的硬件算法使您的测量手段与时并进。
高性能的ARM仿真技术
支持全系列ARM内核仿真,ARM7 / ARM9 / Cortex-M0 / Cortex-M1 / Cortex-M3 / XSCALE / ARM11 等,包括Thumb模式。
支持Cortex-M0 / Cortex-M1 / Cortex-M3内核串行调试(SWD)模式。
无缝嵌接多种主流IDE环境,TKStudio / Keil / ADS / IAR / RealView / SDT等。
USB2.0(High Speed)高速通讯接口,下载编程Flash速度达到1000KB/S。
支持片内Flash在线编程/调试,提供每种芯片对应的Flash编程算法文件。
支持片外Flash在线编程/调试,提供数百种常用的Flash器件编程算法文件。
支持NOR/NAND/SPI等多种接口类型的外部Flash编程/调试。
支持用户自行添加Flash编程算法文件。
具备单独烧写Flash的独立软件,提高生产效率。
支持无限制的RAM断点调试。
支持无限制的Flash断点调试,突破硬件断点数量的限制。
采用同步Flash技术,快速刷新Flash断点,速度如同RAM调试一样快捷。
支持动态断点,可在运行中任意设置/取消断点。
同时支持程序断点和数据断点,便于用户准确跟踪复杂程序的运行。
快速单步程序运行,Z大150步/秒。
标准20-pin JTAG接口与目标板连接,支持热插拔。
检测所有JTAG信号和目标板电压。
自适应目标板电压,支持宽电压范围1.8V~5V。
JTAGZ大时钟25MHz,可达到极限的调试速度。
自动速度识别功能。
支持实时RTCK同步时钟(自适应时钟)。
带有硬件自检功能,方便检测排除硬件故障。
保证Z快Z稳定的调试主频变化的目标系统。
内置特殊调试算法,可靠调试处于非法状态的ARM内核。
支持菊花链连接的多器件仿真。。
基于芯片的设计理念,为数百种芯片提供完善的初始化文件。
内置全面的初始化文件解释执行器,可在复位前后/运行前后/Flash下载前后进行灵活的系统设置,包括寄存器设置/ARM初始化/时钟设置/延时/信息提示等操作。
AVR内核仿真特性
无缝嵌接多种主流IDE环境,TKStudio / AVR Studio / IAR等。
USB2.0(High Speed)高速通讯接口,极快的编程速度,节省用户开发时间。
JTAG编程速度为原装JTAGICE mkII的2.8倍。
ISP编程速度(1MHz时钟)为原装JTAGICE mkII的4.7倍。
具备独立K-Flash烧写软件,支持高速量产在线编程。
支持编程Flash、EEPROM、Fuse、LockBits。
支持所有MEGA系列芯片JTAG编程和调试。
支持所有debugWIRE接口器件单线调试。
支持带JTAG或debugWIRE接口的器件ISP编程。
支持MEGA、TINY、XMEGA等AVR内核全系列的编程和调试。
自动检测AVR Studio版本,用户使用不同版本AVR Studio无需更改驱动。
支持汇编和高级语言调试。
支持数据断点和无限制Flash断点。
支持动态断点,可以在运行过程中设置/取消断点。
支持仿真中任意代码修改,方便用户程序排错。
支持代码和数据缓冲功能,大大提高调试性能。
具有硬件自检功能,快速定位系统硬件问题。
仿真器自动检测目标板电压,仿真不同电压芯片无需做额外配置。
C166内核仿真特性
支持TKStudio / Keil中英文开发环境。
支持Infineon公司全部C166内核芯片的仿真,包括XC166 / XE166 / XC2000等家族。
支持数据断点和无限制Flash断点。
具备独立K-Flash烧写软件,支持高速量产在线编程。
支持内部时钟调试挂起功能。
具有硬件自检功能,快速定位问题。
支持代码和数据缓冲功能,大大提高调试性能。
自动检测目标板电压,仿真不同电压芯片无需做额外配置。
C8051F系列仿真特性
支持仿真器型号:K5 / K8 / K9。
支持TKStudio / Keil中英文开发环境。
支持Silicon Labs公司全部C8051F系列芯片的仿真,包括JTAG方式和C2方式。
支持全速、单步、断点、快速单步、运行到光标处等多种调试。
支持Flash硬件断点,支持Flash独立烧写。
具备独立K-Flash烧写软件,支持高速量产在线编程。
具有硬件自检功能,快速定位问题。
支持代码和数据缓冲功能,大大提高调试性能。
仿真器自动检测目标板电压,仿真不同电压芯片无需做额外配置。
TKScope仿真开发平台采用标准模块化设计,具有高度兼容性。只需极少的POD添置即可覆盖仿真全部芯片,节省您的POD购置费用。
例1,只需一款POD-8051HS就可同时仿真如下不同厂家不同封装的芯片: P89V51RD2,标准8051,PLCC44和DIP40封装; P89C554,标准8051,PLCC68封装; DS89C430,增强型8051,PLCC44和DIP40封装; W79E548,增强型8051,PLCC68封装。
例2,只需一款POD-JTAG-ARM-DP20就可仿真全部ARM芯片,包括Cortex系列。 POD用于仿真不同内核的芯片,8051/ARM/DSP/AVR等。 表1 POD类型列表 |
名称 |
功能特性 |
POD-OCD-SyncMOS-DP10 |
可仿真SyncMOS全部1T时钟周期的芯片 |
POD-8051HS-P84 |
可仿真不同厂商/各种封装的8051芯片 |
POD-8051BS-P84 |
可仿真不同厂商/各种封装的Bondout芯片,如LPC700和LPC900系列 |
POD-JTAG-ARM-DP20 |
可仿真不同厂商的全部ARM芯片,包括ARM7/ARM9/ARM11/XSCALE/Cortex系列 |
POD-XDS560B-P14 |
可仿真TI全部JTAG接口的DSP芯片(高速560模式,适用于DK系列) |
POD-XDS510P-P14 |
可仿真TI全部JTAG接口的DSP芯片(中速510模式,适用于K系列) |
POD-JTAG-AVR-P10 |
可仿真全部JTAG/DebugWire方式的AVR芯片 |
POD-OneWire-ADI-P2 |
可仿真全部的ADI增强型51内核芯片 |
POD-OCDS-DP16 |
可仿真全部OCDS接口的芯片, 如XC800/XC166/XE167/XC2000系列 |
POD-JC2-C8051F-DP10 |
可仿真Silicon Labs全部的C8051F芯片 |
其它或陆续推出的高性能POD组件 |
ECP用于放置不同封装的芯片,插到POD上面。 表2 ECP类型列表 |
名称 |
功能特性 |
通用型号 |
ECP-8051HS-PLCC44 |
所有标准PLCC44封装的80C51系列,完全插入式仿真 |
ECP-8051HS-DIP40 |
所有标准DIP40封装的80C51系列,完全插入式仿真 |
ECP-8051OCDS-P42 |
所有80C51系列的OCDS在线仿真,42脚标准 |
专用型号 |
ECP-P87C591HS-PLCC44 |
P8xC591专用,PLCC44封装 |
ECP-P8xC552HS-PLCC68 |
P8xC55x专用,PLCC68封装 |
ECP-AT89C51CC03HS-PLCC44 |
AT89C51CC01_03专用,PLCC44封装 |
ECP-AT80C51SND1CHS-PLCC84-QFP80 |
AT8xC51SND1C、AT89C5132专用,PLCC84、QPF80封装 |
ECP-8051HS-PLCC44-QFP44-C505 |
Infineon C505专用,QFP44封装 |
ECP-SABC517HS-PLCC84 |
Infineon SAB80C517/C517专用,PLCC84封装 |
ECP-W79E648HS-PLCC68 |
W79E648/W79E548专用,PLCC68封装 |
其它或陆续推出的高性能ECP组件 |
ADP用于连接不同接口的用户目标板,插到POD下面。 表2 ADP类型列表 |
名称 |
功能特性 |
ADP-8051HS-PLCC84 |
所有标准PLCC84封装的80C51系列,PLCC84接口 |
ADP-8051HS-PLCC68 |
所有标准PLCC68封装的80C51系列,PLCC68接口 |
ADP-8051HS-PLCC52 |
所有标准PLCC52封装的80C51系列,PLCC52接口 |
ADP-8051HS-PLCC44 |
所有PLCC44封装的80C51系列,PLCC44接口 |
ADP-8051HS-DIP40 |
所有DIP40封装的80C51系列,DIP40接口 |
ADP-8051OCDS-IDC42 |
所有80C51系列的OCDS在线仿真,42脚IDC接口 |
其它或陆续推出的高性能ADP组件 | |
TKScope K 系列型号对比表
仿真器型号 |
K3 |
K5 |
K8 |
K9 |
基本性能 |
8051通用型 |
8051通用型 |
8/16/32位通用型 |
8/16/32位通用型 |
仿真类型 |
8051 |
8051 |
8051,ARM,AVR,C166,C251,MX… |
8051,ARM,AVR,C166,C251,MX,DSP后续支持… |
通讯方式* |
USB 1.1,500KB/S |
USB2.0,2500KB/S |
仿真频率* |
80MHz仿真频率,20K-120MHz内部时钟 |
逻辑分析板 |
|
内置 |
内置 |
内置 |
仿真存储器 |
6×128KB |
6×128KB |
6×256KB |
6×512KB |
影子存储器 |
128KB |
128KB |
256KB |
512KB |
Bank分组支持* |
|
|
|
8×64KB分组支持 |
仿真电压* |
1.8-5.5V程控步进 |
Super View* 运行中内核观察* 运行中PC观察* 运行中时间观察* 运行中覆盖观察* 运行中性能观察* |
|
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√ |
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√ |
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√ |
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√ |
Super Access* 运行中代码操作* 运行中数据操作* 运行中断点操作* |
|
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√ |
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√ |
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√ |
√ |
√ |
√ |
加彩程序轨迹* |
√ |
√ |
√ |
√ |
精密运行计时器* |
10ns精度,600小时记录 |
基本断点 时间断点 SuperBreak* |
5×128KB |
5×128KB |
5×256KB |
5×512KB |
64bits时间断点 |
64bits时间断点 |
64bits时间断点 |
64bits时间断点 |
√ |
√ |
√ |
√ |
外部信号组合触发* |
√ |
√ |
√ |
√ |
专业逻辑分析仪* |
|
64路/128KB/200MHz |
64路/512KB/200MHz |
64路/1MB/200MHz |
程序时效分析 |
|
128KB范围时效分析 |
256KB范围时效分析 |
512KB范围时效分析 |
数据时效分析 |
|
128KB时效分析 |
256KB时效分析 |
512KB时效分析 |
代码覆盖分析 |
|
128KB代码覆盖分析 |
256KB代码覆盖分析 |
512KB代码覆盖分析 |
程序运行跟踪 |
|
128KB帧运行跟踪 |
256KB帧运行跟踪 |
512KB帧运行跟踪 |
超级结果跟踪* |
|
128KB帧运行跟踪 |
256KB帧运行跟踪 |
512KB帧运行跟踪 |
IDE支持* |
TKStudio,Keil,IAR,ADS,RealView,zlglogic,AVRStudio,CCS等 |
升级 |
|
√ |
√ |
√ |
K系列销售清单
序号 |
名称 |
数量 |
单位 |
备注 |
1 |
仿真器主机 |
1 |
台 |
|
2 |
POD-JTAG-ARM-P20板 |
1 |
块 |
K8/K9标配 |
3 |
POD-8051HS-P84板 |
1 |
块 |
|
4 |
ECP-8051HS-PLCC44板 |
1 |
块 |
安装在POD-8051HS-P84POD板上 |
5 |
P89V51RB2FA仿真芯片 |
1 |
片 |
安装在ECP-8051HS-PLCC44板上 |
6 |
ADP-DIP40-HS板 |
1 |
块 |
安装在POD-8051HS-P84POD板上 |
7 |
ADP-PLCC44-HS板 |
1 |
块 |
|
8 |
DC6V(6.3V)/2A电源适配器 |
1 |
只 |
内负外正 |
9 |
USB通讯电缆/L=1.5m |
1 |
条 |
A-B单磁环 |
10 |
IDC40-IDC40仿真电缆 |
2 |
条 |
|
11 |
逻辑分析仪测量线 |
1 |
条 |
K5/K8/K9标配 |
12 |
M2×6mm沉头镙丝 |
2 |
只 |
用于固定后盖上的盖板 |
13 |
《售后服务指南》 |
1 |
本 |
|
14 |
合格证 |
1 |
张 |
|
15 |
产品光盘 |
1 |
张 |
|
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